智能分析带有"瑕疵"的测量数据

传统的叶片分析软件,都对加载的测量点的顺序要求很高. 测量点的顺序不能出现往复, 交叉, 重叠等情况. 但叶片工件本身的形状很复杂, 很难一次性测量完整个叶片的形状. 很多情况需要中途更换测头角度, 转动转台. 这必然会造成测量过程的中断. 最终获得的测量点数据会出现交叉, 重叠的情况. TotalDMIS的叶片分析模块,可智能分析这些带有"瑕疵的"测量数据, 自动对带有往复, 交叉, 重叠的数据进行过滤和重新排序. 使用TotalDMIS的叶片分析模块, 现场测量人员可以按照任意顺序,方向,区域,分段测量叶片. 大大地降低了现场测量难度. 下面的录像演示了TotalDMIS的叶片分析模块处理随机乱序的测量数据的能力.